2012年11月14日(水)〜1月16日(金)に横浜市で開催された「Embedded Technology 2012」
http://www1.jasa.or.jp/et/ET2012/index.html において,
本研究領域の「耐タンパディペンダブルVLSIシステムの開発・評価」(立命館大,産総研,三菱電機,名城大)の
研究成果として,以下の3つの技術展示を行いました.
電力を利用したサイド チャネル攻撃に耐性のあるAES暗号LSIと設計環境
電 力および電磁波を利用したサイドチャネル攻撃の安全性評価環境
模倣電子部品防止の対策 となるPUF(物理複製不可能関数)チップの試作と評価